Informationen aus der Praxis
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EMTEC gibt in unregelmäßigen Abständen Anwendungs- Informationen heraus. Auf dieser Seite finden Sie Zusammenfassungen des Inhalts dieser Informationen. Sie können sich diese Informationen im PDF-Format herunterladen. |
Silizium, geätzt77,8 kB Das Programm zum Betrachten und Ausdrucken von Dokumenten im PDF-Format wird von ADOBE lizenzfrei zur Verfügung gestellt. Falls Sie dies Programm noch nicht verwenden, können Sie es bei www.adobe.de herunterladen. |
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| infoem02.pdf (33 kB / 30.09.96) |
Untersuchungen an Edelsteinen und Edelmetallen mit dem Rasterelektronenmikroskop und der Mikroanalyse |
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| infoem22.pdf (18 kB / 10.12.99) |
Analytische Werkstoffbestimmung mit dem Rasterelektronenmikroskop und der Mikroanalyse | |||
| infoem23.pdf (17 kB / 10.12.99) |
Analytische Werkstoffbestimmung an einer Aluminiumlegierung mit dem Rasterelektronenmikroskop und der Mikroanalyse | |||
| infoem26.pdf (2,2 MB / 14.04.00) |
Asbest in PVC-Fußbodenbelägen | |||
| infoem27.pdf (2,7 MB / 20.12.00) |
Elektronenmikroskopische Vergleichsaufnahmen einer Schallplatte und einer Compact-Disc-Form (Stamper) | |||
| infoem18.pdf (825 kB / 09.02.98) |
Die Herstellung von Stereobildpaaren mit dem Rasterelektronenmikroskop | |||
| infoem04.pdf (32 kB / 20.09.99) |
Digitale rasterelektronenmikroskopische Bilder in photographischer Qualität | |||
| infoem06.pdf (25 kB / 30.09.96) |
Das Rasterelektronenmikroskop - Einsatzbereiche, Aufbau, Funktion |
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| infoem07.pdf (13 kB / 17.04.97) |
Kursangebote zur Rasterelektronenmikroskopie | |||
| infoem11.pdf (112 kB / 30.04.97) |
Das Eindringen von Elektronen in Materie | |||
| infoem13.pdf (242 kB / 30.04.97) |
Das laterale Auflösungsvermögen bei der Elektronenstrahl-Mikroanalyse | |||
| infoem31.pdf (116 kB / 21.12.08) |
Hinweise zur Installation von ORION-Systemen (ISA Board-Version) | |||
| infoem32.pdf (101 kB / 20.11.07) |
Schichtdickenbestimmung von Zinn auf verzinnten Cu-Drähten mit dem Rasterelektronenmikroskop und der Elektronenstrahl-Mikroanalyse | |||
| infoem33.pdf (111 kB / 25.08.06) |
Das Hochskalieren von Spektrenbildern aus IDFIX- und WDX400-Software; SamX-EDX-System, Microspec WDX400 | |||
Informationen zu den LINK-EDX-Systemen AN 10000, QX 200, QX 2000, 360iXP |
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| infoem15.pdf (46 kB / 3.7.97) |
Die Datenübertragung von LINK-Systemen zu PC´s mit Hilfe der seriellen Schnittstellen der LINK-EDX-Systeme | |||
| infoem16.pdf (41 kB / 20.8.97) |
Ein alternativer Spektrenausdruck an den LINK-EDX-Systemen | |||
| infoem19.pdf (650 kB / 24.3.98) |
QX 2000 und iXP - Elementverteilungsbilder / Element-Konzentrationsprofile auf dem Bildschirm eines STEREOSCAN | |||
| infoem21.pdf (11 kB / 22.7.99) |
Der Jahreswechsel "Jahr 2000" an LINK-EDX-Systemen | |||